Responsabile del Laboratorio:

Dr. Roberta Oberti (Dirigente di Ricerca CNR)

Personale:

Dr. Fernando Cámara (Primo Ricercatore CNR)

Roberto Gastoni (Tecnico CNR)

Numeri Telefonici:

0382 985801 (lab.)

0382 985885 (resp.)

E-mail:

Questo indirizzo e-mail è protetto dallo spam bot. Abilita Javascript per vederlo.

• Un diffrattometro Bruker-AXS SMART-APEX (in comproprietà con il Dipartimento di Scienze della Terra della Università di Pavia) consente la raccolta veloce di dati di diffrazione mediante un rivelatore ad area CCD. La sorgente di raggi X è un tubo sigillato di 2kW con anodo di molibdeno.

• Tre diffrattometri automatici a cristallo-singolo Philips PW1100 con software di controllo FEBO (una completa riscrittura effettuata a Pavia del software originale Philips per l'ottimizzazione delle procedure di analisi diffrattometrica e di raccolta dati). Sorgente di raggi X: tubi sigillati di 2 KW con anodo di molibdeno.

Un dispositivo di riscaldamento disegnato per i goniometri Philips PW1100 permette il trattamento termico e l’analisi diffrattometrica in situ a temperature fino a 1000 °C e con risoluzione angolare fino a 2 theta = 58°.

Campi di Applicazione:

• Identificazione delle fasi mediante misura delle costanti di cella.

• Determinazioni strutturali a temperatura ambiente (theta max = 67°).

• Sistematica mineralogica e cristallochimica di dettaglio.

• Determinazioni strutturali ad alta temperature (fino a 1000 °C e con limitazione di theta max a 29°).

• Studio della espansione termica e delle transizioni di fase nello stesso intervallo di temperatura e risoluzione.

• Identificazione di fasi e controllo qualità mediante diffrattometria di polveri.

• Preparazione di cristalli singoli utilizzati per il raffinamento strutturale per analisi EMP o SIMS (inglobati in resina epossidica). Montaggi singoli o multipli a seconda delle esigenze

Altre Foto:

Diffrattometro a cistallo singolo Bruker-AXS SMART-APEX

Dettaglio di uno dei tre diffrattometri a cristallo singolo Philips PW1100

Forno riscaldante per analisi strutturale ad alta temperatura montato

su un diffrattometro Philips PW1100a