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Laboratorio microsonda ionica (SIMS)

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Responsabile del Laboratorio:

Dr.ssa Luisa Ottolini (Primo Ricercatore CNR)

 

Personale:

Dr. Alberto Zanetti (Primo Ricercatore CNR)

Sig. Marco Palenzona (Tecnico CNR)

Sig. Roberto Gastoni (Tecnico CNR)

 

Numeri Telefonici:

0382 985883

0382 985797

E-mail:

Dr.ssa Luisa Ottolini: This e-mail address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it

Strumentazione:

La microsonda ionica (Cameca ims 4f) è stata acquisita nell’ambito del Progetto Strategico Nazionale del CNR: “Microsonda ionica per ricerche avanzate nel Settore delle Scienze della Terra”. Essa impiega i metodi della Spettrometria di Massa a Ioni Secondari (SIMS). Può operare in bassa ed elevata risoluzione in massa, e secondo la tecnica del filtro in energia. Lo spettrometro di massa è costituito da un settore elettrostatico ed un prisma magnetico. Le sue proprietà focali garantiscono una doppia focalizzazione nel piano radiale ed assiale, ed una focalizzazione in energia nel piano delle fenditure di uscita e nel piano “immagine”, consentendo, fra l’altro, l’acquisizione di immagini ioniche acromatiche.

 

Campi di Applicazione:

  • Determinazione di elementi in tracce: Li-U in matrici silicatiche (minerali e vetri), e non silicatiche.

  • Determinazione di elementi volatili: H, (C), F, Cl in matrici varie.

Pubblicazioni Relative:

 

PIVAC B., BORGHESI A., GEDDO M., STELLA A., OTTOLINI L.: Thermal redistribution of iron implanted in Czochralski silicon, J. Appl. Phys., 67 (6), (1990), 2806-2809.

 

RAMPONE E., BOTTAZZI P., OTTOLINI L.: Complementary Ti and Zr anomalies in orthopyroxene and clinopyroxene from mantle peridotites, Nature, 354 (19/26 December Issue), (1991), 518-520.

 

OTTOLINI L., BOTTAZZI P., VANNUCCI R.: Quantitative SIMS analyses of REEs in silicate minerals: choice of the standard for natural and glassy matrix, GEOANALYSIS 90 Proceedings, edited by G.E.M. Hall, Geological Survey of Canada, Bulletin 451, (1993), 131-138.

 

OTTOLINI L., OBERTI R.: Accurate quantification of H, Li, Be, B, F, Ba, REE, Y, Th and U in Complex Matrixes: A Combined Approach Based on SIMS and Single-Crystal Structure Refinement, Anal. Chem., 72, (2000), 3731-3738.

 

SCHIANO P., CLOCCHIATTI R., OTTOLINI L., BUSA’ T.: Transition of Mount Etna lavas from a mantle-plume to an island-arc magmatic source, Nature, 412 (30 August Issue), (2001), 900-904.

 

OTTOLINI L., HAWTHORNE F.C.: SIMS ionization of hydrogen in silicates: a case study of kornerupine, J. Anal. At. Spectrom., 16, (2001), 1266-1270.

 

OTTOLINI L., CAMARA F., HAWTHORNE F.C., STIRLING J.: SIMS matrix effects in the analysis of light elements in silicate minerals: Comparison with SREF and EMPA data, Amer. Mineral., 87, (2002), 1477-1485.

 

BONATTI E., LIGI M., BRUNELLI D., CIPRIANI A., FABRETTI P., FERRANTE V., GASPERINI L., OTTOLINI L.: Mantle thermal pulses below the Mid-Atlantic Ridge and temporal variations in the formation of oceanic lithosphere, Nature, 423 (29 May Issue),(2003), 499-504.

Last Updated on Saturday, 08 August 2009 07:36