Strumentazione:

• Spettrometro Automatico XRF Philips PW 1480. Centralina di raffreddamento a circolazione chiusa. PC Olivetti M6-440.

• 3 Stufe Termostatate.

• Pressa idraulica.

• Vetreria varia

Campi di Applicazione:

Preparazione dei campioni da analizzare, Reperimento, preparazione e misura di standard interni di laboratorio ed esterni, Esecuzione delle misure di fluorescenza raggi X, Elaborazione dei dati e ricalcolo dei dati analitici, Archiviazione di tutti i dati analitici prodotti.

Principali Linee di Ricerca:

Lo spettrometro per fluorescenza-X è uno strumento che ci consente di determinare qualitativamente e quantitativamente la composizione chimica di un campione, nel nostro caso, solido e polverizzato, mediante lo studio dello spettro di raggi-x di fluorescenza emesso dal campione stesso a seguito d’irraggiamento con una radiazione-x d’opportuna energia (tubo catodico).

Il metodo è essenzialmente di confronto. Per un’accurata analisi quantitativa occorre in pratica avere una serie di campioni a composizione determinata,” standard”, sui quali poter eseguire una taratura. L’analisi è molto veloce e non è distruttiva pertanto il campione analizzato può essere ricuperato e riutilizzato.

Elementi maggiori che si possono analizzare: Na₂O, MgO, Al₂O₃, SiO₂, P₂O₅, K₂O, CaO,TiO₂, MnO, Fe₂O₃

Elementi in tracce che si possono analizzare: Nb, Zr, Y, Sr, Rb, Ce, Ba, La, Ni, Cr, Co, U, Th, S, Cl, Cu, Zn, Ga, Sn, Pb

Pubblicazioni Relative:

1) L.Leoni*, M.Menichini, M.Saitta* Determinazione of S,Cl and F in Silicate rocks by X-RAY Fluorescence Analyses X-RAY SPECTROMETRY, VOL 11, No. 4 - Anno 1982

2) M.Saitta *, M. Menichini, P.Fulignati* Analisi per Fluorescenza-X di campioni di rocce contenenti solfati Atti della Società Toscana di Scienze Naturali Memorie - Serie A – Volume CV - Anno 1998

3) L.Leoni*, M.Menichini, M.Saitta* Ricalibrazione di una metodologia in Fluorescenza-X per l’analisi di minerali e rocce su campioni di polveri. Atti della Società Toscana di Scienze Naturali Memorie – Serie A - Volume CIX - Anno 2004

4) Massimo Manichini Analisi per Fluorescenza-X di elementi maggiori di Standard Internazionali con rette di taratura utilizzando il metodo analitico della ditta Philips - Anno 2005 (Rapporto Interno)

(*) Dipartimento di Scienze della Terra